精密晶片電阻薄膜電阻 精密晶片電阻薄膜電阻
電氣特性測試
項目 規格 測試方法
Tol.≤0.05% Tol.>0.05%
溫度系數 如規格 MIL-STD-202F 304 方法
+25/-55/+25/+125/+25°C 溫度系數
短時間過負荷 ΔR±0.05% ΔR±0.5% JIS-C-5202-5.5
RCWV*2.5或最大過負荷電壓 5 秒
ΔR±0.5% for high power rating
耐電壓 依規格而定 MIL-STD-202F 301方法，
施以最大工作電壓一分鐘
絕緣阻抗 >1000M Ω MIL-STD-202F 302 方法，
施以 100VDC 一分鐘
熱沖擊 ΔR±0.05% ΔR±0.25% MIL-STD-202F 107G 方法，
-55°C~150°C,100 循環
負載壽命 ΔR±0.05% ΔR±0.2% MIL-STD-202F 108A 方法，
RCWV, 70°C, 1.5 小時開， 0.5 小時關， 1000~1048 小時
>7KΩ ΔR±0.5%
ΔR±0.5% for high power rating
耐濕
(穩定狀況下)		 ΔR±0.05% ΔR±0.3% MIL-STD-202F 103B 方法，
40°C, 90~95%RH, RCWV 1.5 小時開， 0.5 小時關， 1000~1048 小時
ΔR±0.5% for high power rating
耐乾熱 ΔR±0.05% ΔR±0.2% JIS-C-5202-7.2
96 小時 @ +155°C 無負載狀況下
低溫測試 ΔR±0.05% ΔR±0.2% JIS-C-5202-7.1
1 小時， 於 -65°C 下做 45 分鐘的 RCWV
ΔR±0.5% for high power rating
抗彎強度 ΔR±0.05% ΔR±0.2% JIS-C-5202-6.1.4
彎幅 3mm， 10 秒鐘
可焊性 95%min coverage MIL-STD-202F 208H 方法，
260°C±5°C, 2±0.5(sec)
抗焊溫度 ΔR±0.05% ΔR±0.2% MIL-STD-202F 210E 方法，
260±5°C, 10±1 秒鐘
Note: 儲存溫度：25±3°C；濕度：<80%RH

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AR 03 T T D   1000
品名
尺寸 (L×W)
02 1.00×0.50mm
03 1.60×0.80mm
05 2.00×1.25mm
06 3.00×1.50mm
10 4.90×2.40mm
12 6.30×3.10mm
公差精度
T ±0.01%
B ±0.10%
C ±0.25%
D ±0.50%
F ±1.00%
包裝方式
T Taping Reel
P Bulk
溫度系數
S ±5ppm/°C
B ±10ppm/°C
N ±15ppm/°C
C ±25ppm/°C
D ±50ppm/°C
功率
Standard / Special
V 1/4W
W 1/8W
X 1/10W
阻值
1000 100Ω
2201 2200Ω
1002 10000Ω
4992 49900Ω
1003 100000Ω

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